水
- 水稻叶肉
一、材料：水稻
二、基因型/品种：WT、mutant
三、检测部位：叶肉细胞
四、检测指标：Ca2+
五、处理：
无处理
10 mg/mL chitin、病原菌处理24h
10 mg/mL chitin、病原菌瞬时处理
六、具体方案：
处理1、2：无处理、10 mg/mL chitin处理24h、病原菌处理24h后，定点检测叶肉细胞10min，8重复/组
处理3：10 mg/mL chitin、病原菌处理前检测5min，10 mg/mL chitin、病原菌处理后，检测10分钟，8重复/组
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- 水稻根扫点定点
【方案一：扫点检测】
检测样品：水稻
检测部位：距根尖300、800、1500、2500、7500、15000μm
检测指标：NH4+、NO3-、K+
处理方式：
空白对照
20nM量子点处理3d
5. 具体实施方案：
对照、20nM量子点处理3d后，进行扫点检测，每个点检测3min
6. 重复数：8
【方案二：定点检测】
检测样品：水稻
检测部位：根成熟区
检测指标：NH4+、NO3-、K+
处理方式：
空白对照
20nM量子点处理3d
5. 具体实施方案：
对照、20nM量子点处理3d后定点检测10min
6. 重复数：8
【方案三】
检测样品：水稻
检测部位：扫点+定点
检测指标：NH4+、NO3-、K+
处理方式：
空白对照
20nM量子点处理3d
5. 具体实施方案：
1）使用对照进行扫点检测距根尖300、800、1500、2500、7500、15000μm这6个位点，4重复
2）根据扫点结果，确定最大吸收位点，进行定点检测，8重复/组
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- 水稻根预处理、瞬时
【方案一：预处理（长时处理）】
目的：观察Cd长时处理效应
材料：水稻
处理：
无AMF益生菌
无AMF益生菌+ 5ppm CdCl2
有AMF益生菌
有AMF益生菌+ 5ppm CdCl2
检测指标：Cd2+
检测位点：根成熟区（Cd2+在成熟区变化较明显）
重复：8
具体实验内容
5ppm CdCl2种植5个月后，定点检测水稻根成熟区5min
【方案二：实时处理】
目的：Cd实时处理后，Cd2+的吸收信号相对较强，有利益观察不用处理间的差异
材料：水稻
处理：
无AMF益生菌，5ppm CdCl2 实时处理
有AMF益生菌，5ppm CdCl2实时处理
检测指标：Cd2+
检测位点：根成熟区（Cd2+在成熟区变化较明显）
重复：8
具体实验内容
5ppm CdCl2处理前检测5min，5ppm CdCl2处理后检测10min
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- 水稻根K泄露
【方案一】
目的：观察整条根的K+泄露情况
检测样品：水稻
基因型：突变体、WT
检测部位：根分生区、伸长区、成熟区
检测指标：K+
具体实施方案：检测距根尖500（分生区）、1500（伸长区）、7500（成熟区）μm这3个位点，每个点检测5分钟
重复数：8
【方案二】
检测样品：水稻
基因型：突变体、WT
检测部位：根分生区
检测指标：K+
具体实施方案：定点检测5分钟
重复数：8
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- 水稻根ZnSO4处理
一、材料：水稻（WT、OE、RNAi）
二、检测指标：Ca2+
三、检测位点：根分生区过渡区
四、处理：
a.对照
b.0.4mM ZnSO4
c.4mM ZnSO4
五、具体实验细节：
0.4/4mM ZnSO4处理前检测5min，0.4/4mM ZnSO4实时处理后处理后检测10min
六、重复数：8
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- 水稻根Cd
一、材料：水稻
二、处理：
1）瞬时处理
目的：Cd实时处理后，Cd2+吸收信号相对较强，有利益观察不同材料、不同处理间的差异
CK（20μM CdCl2）
CK+5%DCD
CK+10%DCD
CK+0.5%DMPP
CK+1%DMPP
2）预处理7d
目的：观察Cd长时处理效应
CK（20μM CdCl2）
CK+5%DCD
CK+10%DCD
CK+0.5%DMPP
CK+1%DMPP
三、检测指标：Cd2+
四、检测位点：根成熟区
五、具体实验细节：
1）瞬时处理前（CK）检测3min，5%DCD、10%DCD、0.5%DMPP、1%DMPP瞬时处理后检测15min，现场会根据前2个样品的实际信号变化情况，优化实时处理后的检测时长。例如15min后信号还在持续变化，则延长实时处理后的检测时长；如不到15min信号已经处于稳定期，则缩短实时处理后的检测时长。
2）5%DCD、10%DCD、0.5%DMPP、1%DMPP处理7d后，检测5分钟稳定数据即可
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- 水稻根Cd、O2有无铁膜和Cd处理
检测样品：水稻
检测样品品种：玉珍香、湘晚籼12
检测部位：根
检测指标：Cd2+、O2
处理方式：
30 μM CdCl2+无铁膜（处理3h）
30 μM CdCl2+有铁膜（处理3h）
5 mM 硅酸钠+30 μM CdCl2+无铁膜（处理3h）
5 mM 硅酸钠+30 μM CdCl2+有铁膜（处理3h）
【实验一：扫点检测】
目的：确定Cd2+最大吸收位点
检测位点：水稻根冠顶端、分生区、伸长区、成熟区
测定时间：5min
检测指标：Cd2+
重复数：4
具体内容：检测“30 μM CdCl2+无铁膜”处理组的样品即可确定后续定点检测的位点。
【实验二：定点检测】
目的：探究铁膜是如何影响镉胁迫下Cd2+转运的。
检测位点：根据扫点结果确定/确定区域中有铁膜的位点和无铁膜的位点
测定时间：5min
检测指标：Cd2+
重复数：8
具体内容： 30μM CdCl2+无铁膜（该处理检测4个重复，其余处理检测8个重复）、30μM CdCl2+有铁膜、5mM 硅酸钠+30μM CdCl2+无铁膜、 5mM 硅酸钠+30 μM CdCl2+有铁膜定点检测5min。
备注：该组实验可以检测同一条根上有铁膜的和没有铁膜的位点，探究在同一条根上，铁膜影响Cd2+吸收的机制。
【实验三：定点检测】
目的：探究O2在铁膜缓解镉胁迫中的作用。
检测位点：根据Cd2+扫点结果确定
测定时间：5min
检测指标：O2
重复数：8
具体内容：30μM CdCl2+无铁膜、30μM ...